圣德科 | 免缠绕插回损测试仪 RL1

6/09/2022，光纤在线讯，RL1  插回损测试仪是一款无缠绕易操作插回损测试仪。可快速、可靠、准确的获取 IL 和 RL测量数据。

可以包含多达 4 个内置波长（850nm、1300nm、1310nm、1490nm、1550nm、1625nm），并提供 1x2 前面板输出选项。

RL1 最多可与四个 RD-S 无线遥控头功率计配对。重新设计的积分球可以测量密集的 72 通道 MTP/MPO 以及一个连接的双工 LC 上的损耗。RD-S 标配 SD 载玻片检测器适配器，可实现终极易用性。


免缠绕插回损测试仪 RL1

▼性能指标

工作波长：850/1300nm(多模),1310/1490/1550/1625/1650nm（单模）　

回损测量范围：30-85dB（单模测试） / 10-60dB(多模测试)

回损测量精度：± 1dB~±4.7dB

插损测量精度：± 0.03 (<5dB 损耗值)，± 0.15 (≥ 5dB 损耗值)

测试时间：＜1.5s(快速模式)、＜5s(标准模式)



▼用途

•广泛应用于光纤光缆，光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试。

•自动测试多纤芯器件，例如 MPO

•单模和多模光纤器件的测试解决方案

•测量线卡和光收发模块的插损回损

▼欢迎联系
电话 : 021-58361261
官网 : www.santec.com.cn