新品 ┃ 联讯仪器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C

光纤在线编辑部  2022-10-31 11:17:44  文章来源:本站消息  版权所有,未经许可严禁转载.

导读:近日,联讯仪器全新推出 PXIe 精密电源/测量单元 S2012C。

10/31/2022,光纤在线讯,联讯仪器全新推出 PXIe 精密电源/测量单元 S2012C。其最小测量分辨率达10fA/100nV,输出电压高达±200V。进一步拓展了PXIe源表的应用场景,工程师可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit) 来测量低电流信号,同时PXIe SMU 的高通道密度、高速的测试吞吐率和灵活性可实现晶圆级参数测试、材料研究以及分析低电流传感器和集成电路的特性等多种应用。




01.高精度
S2012C  分辨率高达10fA/100nV,电压精度100μV,电流精度10pA ,可用于测量微小的泄漏电流等应用场合,泄漏电流通常在pA级别,S2012C搭配3同轴测量端子,用于nA级以下小电流测试。

02.Adaptive PFC系统

用户可利用Adaptive PFC(Precise-Fast Control)系统,用户可根据负载特性,调整相关参数,获得更精确,快速的输出特性。

03.高速测量
S2012C 最高可支持1M的采样率,NPLC和采样率可根据需要设定,以满足高速高精度的测量场景。

04.构建多通道并行测试系统
基于PXIe的模块化架构便于构建紧凑的并行多通道测试系统,可扩展至数百个通道来满足晶圆级可靠性和并行测试需求。

05.直流I-V输出能力


06.脉冲I-V输出能力


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     联讯仪器是国内高端测试仪器和设备提供商。主要专注于高速通信测试,光芯片测试和半导体测试三大领域,可以提供包括高速误码仪、网络测试仪、宽带采样示波器、高精度波长计、光谱仪,通用数字源表等高端测试仪器,以及高速光电混合ATE, 激光器芯片老化机,激光器芯片测试机,硅光晶圆测试机,功率芯片测试机,晶圆老化机,半导体参数测试机等高端测试设备。

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