OptoTest发布针对高密度连接器插损测试用系列适配器

光纤在线编辑部  2019-09-16 16:12:41  文章来源:翻译整理  版权所有,未经许可严禁转载.

导读:美国光纤测试仪表厂商OptoTest日前发布针对双路LC(包括unibody),16f MTP和CS光连接器的测试用适配器。利用这些适配器,测试工程师可以在不需移动或者滑动适配器的情况下测试更多连接器的插损回损性能。此外,这些适配器也非常容易互换,可以支持混合缆的测试,从而提升了生产的灵活性。

9/15/2019,美国光纤测试仪表厂商OptoTest日前发布针对双路LC(包括unibody),16f MTP和CS光连接器的测试用适配器。利用这些适配器,测试工程师可以在不需移动或者滑动适配器的情况下测试更多连接器的插损回损性能。此外,这些适配器也非常容易互换,可以支持混合缆的测试,从而提升了生产的灵活性。

OptoTest表示这些适配器的推出配合了该公司OP-SPHR平台支持更高密度连接器的需求。OP-SPHR平台如今可以后向兼容原有的适配器,确保测试的稳定性和可重复性。OptoTest的OP-SPHR集成环境是一种针对高密度光连接器应用的测试辅助产品。通过反射并均匀分配光线到整个内腔表面,让插损策略更加稳定,减少对偏振相关性。

OptoTest创立于2002年,位于美国加州,是行业为数不多的女性创办的公司之一,在全球最早推出了基于USB的光功率计。国内代理商为上海阿博隆等公司,深圳谱兆等。OptoTest将会出展本月ECOC2019,展位号112。
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