联讯仪器推出25G/50G突发误码仪

光纤在线编辑部  2022-12-02 18:12:07  文章来源:综合整理  版权所有,未经许可严禁转载.

导读:2021年,ITU-T 50G PON系列标准正式发布,系列标准包括:总体需求标准修订G.9804.1 AMD1、通用协议层标准G.9804.2,以及物理层标G.9804.3。为了满足下一代50G PON测试需求,联讯仪器推出了rBT2250,专门针对下一代25G/50G PON光线路终端(OLT)测试的新型突发误码分析仪。

12/02/2022,光纤在线讯,随着10G PON网络部署和实施,下一代50G PON网络的标准也已经完善:2018年,ITU/FSAN启动了基于单波长50G PON标准的制定工作,命名为G.HSP(G.Higher Speed PON)。2019年,50G PON的总体需求G.9804.1发布,明确了单波长TDM PON架构,以及上下行速率组合,此外,50G PON需要满足与10G PON以及存量ODN的共存平滑演进。2021年,ITU-T 50G PON系列标准正式发布,系列标准包括:总体需求标准修订G.9804.1 AMD1、通用协议层标准G.9804.2,以及物理层标G.9804.3。为了满足下一代50G PON测试需求,联讯仪器推出了rBT2250,专门针对下一代25G/50G PON光线路终端(OLT)测试的新型突发误码分析仪。



50G PON 应用场景

50G PON是接入网能力的全面提升,实现了大带宽、低时延保障和通道化能力的全面提升,面向多应用场景。


50G PON采用单纤双向传输,下行TDM时分复用,上行TDMA时分多址接入,实现OLT和ONU之间的点到多点通信,在PON系统中,光网络单元ONU通过光纤和耦合器共享一个光线路终端OLT,上行数据的传输采用时分复用的方式共享上行信道,对于发射上行数据的光发射机来说,它发射的是突发包信号。目前因为受到核心芯片及器件的限制,50G PON目前阶段还是以非对称:下行50G连续/上行25G突发为主。



50G PON 测试挑战

因传输路径不同,各数据包有不同衰减,数据包中存在长连“1”、“0”,这些因素的影响使得OLT突发接收模块接收的信号是特殊的突发光信号。



ONU 上行突发信号:

需要有和数据同步的使能控制信号;

需要能发送前导码+PRBS数据的具有时序的数据包(帧结构)

→需要具有突发数据和同步使能控制信号的误码仪



对于上行的突发信号,OLT接收模块不仅要从不同功率衰减ONU1和ONU2突发信号中,迅速恢复出幅值相等的信号,而且要消除不同ONU的相位突变,即完成时钟和相位的对齐,因此OLT输出的信号应该为幅值相等且时钟和相位对齐的电信号,双突发测试可以模拟两路不同衰减的ONU传输测试。

→需要突发误码仪在突发模式才能验证OLT接收机的性能,连续模式误码分析仪诊断不出来有问题的OLT

rBT2250 突发误码仪

针对上述测试需求,联讯仪器rBT2250提供2个独立的突发码型发生器和误码探测器通道,支持连续模式或突发模式误码分析,具有两路突发时分码型序列产生和误码分析能力。码型时序灵活可调,并针对器件测试需求,给相应测试通道提供同步的激光器使能、复位信号等低速控制通道。而且rBT2250内置时钟恢复,可以自动测距,对长纤测试毫无问题。从而大大简化测试设置、连接、占地空间以及测试成本。



产品特点

支持突发或连续模式信号输出及误码测试;

突发模式支持速率:9.953Gbps/10.3125Gbps/12.4416Gbps/24.8832Gbps;

多通道配置:

集成2个独立的高速突发数据通道,

支持2路突发时序可配置的码型发生器通道和1路突发误码测试通道;

支持2路同步的ONU激光器使能控制通道,控制电平需要LVTTL 3.3V,不需外接电平转换;

支持1路双复位控制通道:复位位置可调,复位宽度可调;

支持1路RSSI Trigger:且 RSSI Trigger 位置及脉冲宽度可调;

可增加额外连续码型发生器通道:可以选择双25G NRZ通道、50G PAM4通道或者50G NRZ通道;

支持LOS测量:每个测试通道单独具备LOS监测通道,可以监测SD(Signal Detect)信号,判断LOS;

支持CDR(时钟恢复):同OLT设备类似,每次接收都会进行时钟恢复;内置时钟恢复使得rBT2250可以工作在真实的长纤工作环境中,这在业内普遍使用的其他方案中基本无法实现,因为那些系统不支持时钟恢复,长纤对时延的及抖动的影响使其不能工作。



OLT 整体测试方案中,rBT2250突发误码仪同时支持2路突发信号,模拟2个ONU的双包突发测试,50G 光采样示波器支持OLT TX端连续模式光眼图测试。

关于联讯
联讯仪器是国内高端测试仪器和设备提供商。主要专注于高速通信测试,光芯片测试和半导体测试三大领域,可以提供包括高速误码仪、网络测试仪、宽带采样示波器、高精度波长计、光谱仪,通用数字源表等高端测试仪器,以及高速光电混合ATE, 激光器芯片老化机,激光器芯片测试机,硅光晶圆测试机,功率芯片测试机,晶圆老化机等高端测试设备。

更多产品详情,请访问 www.semight.com

联系我们
销售中心负责人:杨   建 186-6029-8596   
光芯片老化测试:张   纪 189-7147-3511
光通讯测试仪表:邓   寒 186-2613-2729  
高精度数字源表:张盼盼 185-2212-4627
半导体测试设备:张学增 139-1404-6017




光纤在线

光纤在线公众号

更多猛料!欢迎扫描左方二维码关注光纤在线官方微信
微信扫描二维码
使用“扫一扫”即可将网页分享至朋友圈。