专访众望达:AI算力驱动 MT-FA自动化测试设备迎来新增长

光纤在线编辑部  2024-05-06 15:18:07  文章来源:本站消息  版权所有,未经许可严禁转载.

导读:在众望达的生产线上,工人们正忙碌着加班加点,以确保MT-FA测试系统能够及时交付给客户,助力AI算力时代。

5/06/2024,光纤在线讯,进入2024年,AI算力的蓬勃发展为众望达MT-FA自动化测试设备带来了新的增长机遇。MT-FA组件在光通信的高速传输和集成应用中扮演着至关重要的角色,它是实现高速率、高密度光收发模块(光电转换)解决方案的核心部件。如何保障产品在批量化生产的一致性?如何提升组件的测试效率?成为时下光通信器件产品紧张交付的重点和难点。近日,光纤在线走访了会员企业—众望达光电,一家专注于自动化测试的厂商。公司副总经理邓荣辉,及销售总监张黎接受了我们的采访。

随着AI技术的不断深入,高速光模块的需求量节节攀升,而应用于光收发模块的高密度、高精度MT-FA微连接组件的需求日益增长,成为市场上的热门产品。随之而来的挑战是如何保证产品的及时交付和性能的稳定性。 在众望达的生产线上,工人们正忙碌着加班加点,以确保MT-FA测试系统能够及时交付给客户,助力AI算力时代。

众望达副总经理邓总指出:“得益于高速光模块需求的激增,MT-FA微连接组件的高精度测试系统变得至关重要。传统上,业界普遍使用MPO测试仪来测试MT-FA组件,但由于缺少专用夹具,导致插回损测试的准确精度不足,无法满足高速光模块对高精度高性能的严格要求。众望达自2022年起投入研发MT-FA测试系统,经过两年的精心打磨,实现MT-FA专用的自动化高精度测试设备,并自2023年下半年开始陆续交付给客户。这些专用的测试工具极大地提高了MT-FA组件的插回损测试的精度,确保了测试结果的可靠性和精确性,成为MT-FA组件厂商的必备。” 

众望达的自动化测试系统展现了卓越的扩展性和兼容性,能够适应MT-FA组件的多样性,同时兼容带隔离器和不带隔离器的产品方案,以及不同角度和尺寸的FA组件。且Tx和Rx仅需一次放置即可完成测试,此外,系统的自动化设计还减少了对人工操作的依赖,有效避免了测试过程中的纤损和材料崩边问题,显著提升了测试效率。

图片说明:众望达MT-FA专用自动化测试系统


众望达销售总监张黎表示:“我们的测试系统能在大约10秒内完成一个MT-FA的插回损测试,这对于当前紧张的交付形势来说,无疑是雪中送炭,因此销量持续攀升。2024年第一季度MT-FA测试系统的出货量相比2023年度增长了三倍。而且,我们测试设备通过验证的厂家几乎全部来自于拥有10万级以上件/月产能的大型客户,他们的产品通常供应给英特尔、英伟达、谷歌、字节等终端客户。可以说,我们也在为AI技术的普及贡献着自己的力量。”

进入2024年,受益于大型厂商的算力投资力度增强的驱动,光通信产业链迎来了产能扩张的新浪潮。在这一过程中,自动化生产和自动化测试技术正逐渐成为推动行业发展的关键增长点。众望达在自动化测试设备领域的创新和努力不仅提升了自身的市场竞争力,也为整个光通信产业链的产能扩张和自动化生产、测试技术的发展注入了新的动力。
关键字: 众望达 MT-FA 插回损
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