英思腾科技成功参展2006 OFC

3/13/2006,2006年3月7日，美国加利福尼亚州阿纳海姆市 (Anaheim) 阿纳海姆会议中心举办的 OFC2006 展会上，英思腾科技（Instelent Technology）推出了独立研发的用于光模块和光器件的测试仪器：155M~3G码型发生及误码测试仪（E5010）、10G码型发生及误码测试仪（E6010）和激光器测试仪（E3010）。这些产品在国内外同行中引起了极大关注。据了解，这是国内厂商首次推出此类仪器。目前，这些产品已开始接受订货。在英思腾科技的网站（www.instelent.com）上，可以查看相关产品的资料。
E5010——155M~3G码型发生及误码测试仪可用于SPF/SFF/1x9/GBIC等光模块和PIN-TIA/APD-TIA等光器件的测试解决方案。
E6010——10G码型发生及误码测试仪可用于10G速率的小型化模块XFP的测试解决方案。
 E3010——激光器测试仪用