Luna Technologies推出光背向反射计OBR

  美国 Luna Technologies 公司成立以来，连续4年(2002～2005)获得 FROST & SULLIVAN 大奖。该公司的光背向反射计（OBR）在光器件、光系统的测试、诊断过程中，具有无与伦比的优越性：无测试死区，空间分辨率40um，灵敏度-120dB，能够探测到极其微小的损耗变化（如弯曲、断裂、较差的熔接点等），甚至能够帮助您发现器件中尚未被人们所了解的损耗机制。Luna Technologies 公司的 OBR 能够对器件、系统内部的缺陷、故障进行诊断，使您及时发现问题，避免在器件最终检测过程中才发现问题的困扰，帮助您省去产品返工所造成的时间＆资金浪费，大大降低了成本，是无源器件、光模块产品研制和生产的首选测量仪器。

优势特点：
 分辨率高：空间分辨率最高达10um，可分辨光学部件的精细结构；
 灵敏度高：动态范围70 dB，灵敏度-125 dB；
 测量范围长：有几种测量范围的仪器可供选择（10、30、70、500米）；
 通过单次扫描，即可快速测量器件或系统的插入损耗和回损；
 损耗事件定位：可以通过监测背向散射来确定引起损耗的原因（弯曲、坏熔接点等）；
 深入探测器件内部：使用强大的时域窗口来显示器件的内部特性；
 能够跟踪光网络中偏振态随光纤长度方向的变化；
 直观的图形显示界面：可以显示所有的关键数据和曲线。
应用:
 主要用于子系统生产和验证，包括光放大器模块、收发模块、放大器模块的光学子系统生产，发送/接受模块环路，激光器和调制器模块
 单连接点光开关验证
 组装和连接有效性和定位管理
 全系统设计有效性验证和分析区别单个器件、连接头、光纤、熔接点和其他器件。
 元器件资格检测：深入探测和快速测试单个光学元器件
 光学系统和模块的研发和生产过程中故障定位
 器件和部件的失效分析

北京凌云光子技术有限公司为Luna Technologies公司在国内的指定代理，有关技术和商务问题，欢迎随时来电来函垂询。
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