VI系统公司发布12X25Gbps 并行光测试板

光纤在线编辑部  2014-11-25 18:06:02  文章来源:综合整理  版权所有,未经许可严禁转载.

导读:

11/24/2014, 德国高速芯片提供商VI系统公司今天发布最高支持300Gbps应用的第二代的12通道并行光测试板。VHXT6212A-840发射测试板针对不同的信号提供不同的高速电接入连接器,并提供标准的SMA连接器供电。光输出信号通过VI系统公司的850nm VCSEL芯片阵列产品,每路信号25Gbps,并通过微透镜耦合到带状光纤中。每根光纤为50/125微米的标准多模光纤。带状光纤带有扇出的12 X FC/PC连接器。该测试板驱动电路符合InfiniBand EDR标准,测试板功耗每通道小于200mW。VCSEL驱动电路可以支持微软视窗系统编程。
同时发布的VHXR6212A-840接收测试板采用了专利的12通道PIN阵列,探测窗口为700-870nm,并通过微透镜耦合到和发射测试板同样的带状光纤中。接收测试板提供高速差分电输出连接器和SMA连接器到电源。该测试板支持输出电压调整和预加重模式,支持设置信号检测阈值。接收测试板每通道功耗小于180mW。其跨阻抗放大器支持微软视窗系统编程。
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