WaveFront 推出MEMS测试仪
光纤在线编辑部 2004-01-15 08:30:52 文章来源：综合整理 版权所有,未经许可严禁转载.
导读：
1/14/2004， WaveFront仪器公司今天推出M510 超高速精密光学MEMS测试系统和OmniVue XP分析和控制软件。M510配合OmniVue软件将成为光MEMS器件特性的理想分析工具。该产品的主要特点包括超精密的镜面倾角测量能力，超高速的镜面响应测量能力，2个独立的用户订制波形发生装置，4个独立的用户电压通道，完全的X-Y自动调整装置。
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