宜捷威新推出LD高温测试系统

2/22/2006,Faztec Optronics宜捷威新推出之LD高温测试系统，此LD测试系统打破美国日本同业以高单价独占市场之传统，为采用IC BUTN-IN作法，烤箱内完全采用PCB和插座做为电流导通之介质，不采用易劣化之电线，且把高温炉和控制室整合在一个机箱内，所以外部除了电源线外，看不到多余之电线，整个系统在外观上非常简洁，并采用触控屏幕做为人机界面，操作简单易懂。

  该公司行销部门高达人经理指出FLT-704为LD驱动电流0~200mA与PIN-TIA驱动电压0~10V，可由人机界面设定，每个Channel最高驱动电流为200mA。而此系统最大的特色是LD系统共有24个测试盘，并分成四组，即每盘64颗LD，每组6盘，PIN-TIA系统也有24个测试盘，分成二组，即每盘64颗PIN-TIA，每组12盘，两者皆可独立由触控屏幕上设定烧测电流值与电压值。LD在烧测时，TO-Can内的PD可同以5~25V的电压，提供逆偏BURN-IN与 PD之逆偏电压，二个OVEN也可独立设定测温度，温度范围R.T.~150℃，烧测时间为0~9999.9小时，同时实际烧测时间也会示在触控屏幕上，当烧测时间结束时，系统会自动OFF电流、电压、温度，即本系统具有定时功能。且LD的脚位由驱动电路板上的跳接线选择。

  宜捷威科技为亚洲少数专注于光通讯量测的仪器供货商，由量测仪器整合起家的宜捷威，采代理与自行开发产品双主轴策略，宜捷威系技术、行销并重，且西进欧盟广大市场，东扫日本竞争市场，并于国内武汉地区设立据点，抢进成为通讯测试品牌权威。目前Faztec Optronics 宜捷威之FLT-704 LD高温测试系统已成为光通讯大厂华工正源、飞通、SAE等厂商之基本配属设备。