宜捷威携PON测试系统参加日本FOE

光纤在线编辑部  2005-01-13 09:22:13  文章来源:本站消息  版权所有,未经许可严禁转载.

导读:

1/12/2005,今年首个最重要的国际性光电展会——日本FOE展将于1月19日到1月21日在日本东京举行,展会涵盖了光通信设备等在内的多类光学及通信行业的产品。FTTH作为目前热门话题,其中PON的测试也会成为大家的关注的焦点。宜捷威科技股份有限公司继2004年12月23日在台湾新竹成功举办光通讯测量技术研讨会之后,将携目前世界上最完整的突发模式传输PON-ONU/OLT模块测试系统参加本次展会。

   中國人創立的宜捷威在与世界儀器大廠Anritsu技术合作下,遵循行业标准,开发出世界第一套PON测试系统。这是一套具有完全的知识产权的测试设备(包含硬体及软体),也是一套相当全面的PON模块的测试解决方案。它能进行如APON、BPON、EPON、GPON等PON产品的ONU和OLT端模块的测试,该测试方案完全模拟真实环境下的burst mode信号传输,同时各项测试参数可以很方便的在软件上进行设定,以方便各种用户对PON测试的不同要求。

   宜捷威公司预计今年上半年在大陆武汉、深圳等几大城市举办component(TO-can、TOSA/ROSA等)、Transceiver及PON-ONU/OLT、OVNA与IMD测试专场seminar,届时欢迎广大关心和支持宜捷威公司的业界朋友的莅临指导!
关键字: 宜捷威
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