宜捷威测试Laser Diode 高温测试系统

光纤在线编辑部  2005-07-26 09:53:44  文章来源:本站消息  版权所有,未经许可严禁转载.

导读:

7/26/2005,FLT-704 Laser Diode Burn In System是宜捷威Faztec  Optronics和工业技术研究院ITRI合作之Laser Diode高温测试系统,此系统采用IC BUTN-IN作法,烤箱内完全采用PCB和插座做为电流导通之介质,不采用易劣化之电线,且把高温炉和控制室整合在一个机箱内,所以外部除了电源线外,看不到多余之电线,整个系统在外观上非常简洁,并采用触控屏幕做为人机界面,操作简单易懂。 

   FLT-704为LD驱动电流0~200mA与PIN-TIA驱动电压0~10V,可由人机界面设定,每个Channel最高驱动电流为200mA。而此系统最大的特色是LD系统共有24个测试盘,并分成四组,即每盘64颗LD,每组6盘,PIN-TIA系统也有24个测试盘,分成二组,即每盘64颗PIN-TIA,每组12盘,两者皆可独立由触控屏幕上设定烧测电流值与电压值。LD在烧测时,TO-Can内的PD可同以5~25V的电压,提供逆偏BURN-IN与 PD之逆偏电压,二个OVEN也可独立设定测温度,温度范围R.T.~150℃,烧测时间为0~9999.9小时,同时实际烧测时间也会示在触控屏幕上,当烧测时间结束时,系统会自动OFF电流、电压、温度,即本系统具有定时功能。且LD的脚位由驱动电路板上的跳接线选择。 

  目前使用者包含多家光通讯大厂如武汉电信器件WTD,武汉华工正源光子HG Genuine,与SAE。宜捷威科技Faztec Optronics为国内少数专注于光通讯量测的仪器供货商,由量测光模块Transceiver起家的宜捷威,从上游组件LD测试,PD测试,TO-CAC测试,TOSA测试,到完成品光模块Transceiver测试均可。配合光通讯设备组件代理与自行开发产品双主轴策略来服务客户,宜捷威系技术、行销并重,且于武汉光谷为中心启开华人光通讯测试品牌先机。

关键字: 宜捷威
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